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(1) Scanning Photoluminescence Microscope with Sub-micorn...
M. Yoshimoto~
Jpn. J. Appl. Phys., 39, 2000, pp.6105-6106.
(2) Sub-micron scale photoluminescence image of SiC and G...
M. Yoshimoto, M. Goto, J. Saraie, T. Kimoto, H. Matsunami~
Materials Science Forum, 2000 p.627-630.
(3) Direct Observation of Polytype Domain in GaN by Cryog...
M. Yoshimoto, M. Goto, and J. Saraie,
Jpn. J. Appl. Phys., 40, 2001, 3159-3160.
(4) Low-Temperature Microscopic Photoluminescence Images ...
M. Yoshimoto, J. Saraie, and S.Nakamura~
Jpn. J. Appl. Phys., 40, 2001, pp.L386-L388.
(5) Impurity Incorporation in Epitaxially Laterally Overg...
M. Yoshimoto, J. Saraie, and S. Nakamura~
J. Cryst. Growth, (2002) 1075-1078.
(6) Sub-micron Scale Photoluminescence Images of Wide Ban...
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Materials Science and Engineering B, (2002) 21-24.
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M. Yoshimoto, J. Saraie, and S.Nakamura~
Jpn. J. Appl. Phys., 40, 2001, pp.L386-L388.
(5) Impurity Incorporation in Epitaxially Laterally Overg...
M. Yoshimoto, J. Saraie, and S. Nakamura~
J. Cryst. Growth, (2002) 1075-1078.
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Materials Science and Engineering B, (2002) 21-24.
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